Thiết bị phân tích kim loại nặng trong đất tại hiện trường
Mã sản phẩm: 00049
Hãng sản xuất:
Ứng dụng và tính năng ưu việt :
- Ứng dụng rất hữu ích trong việc giám sát , đo sàng lọc nhanh chính xác phục vụ công việc giám sát đánh giá tác động môi trường cho việc ô nhiễm kim loại nặng trong môi trường đất.
- Đánh giá độ độc hại môi trường đất
- Xác nhận cải tạo đất thành công
- Đánh giá địa điểm khu công nghiệp
- Tiết kiệm thời gian và chi phí nhờ không cần sử dụng phòng thí nghiệm
- Giới hạn phát hiện hàm lượng nguyên tố siêu thấp
- Thao tác chỉ với một phím ấn
- Có khả năng phân tích những khu vực rộng lớn
- Có độ chính xác và độ lặp lại tuyệt vời
Thông số kỹ thuật :
- Sử dụng công nghệ HDXRF là công nghệ phân tích nguyên tố, sử dụng các thấu kính tinh thể đường cong 2 lớp, đã được cấp bằng sáng chế, của XOS nhằm đề cao độ nhạy và độ chính xác của phép đo. Các thấu kính quang học sẽ lọc một số tia X từ một chùm tia X, sau đó phản xạ những tia đã được chọn và một chùm tia năng lượng đơn sắc tập trung vào mẫu. Bằng việc sử dụng các chùm kích thích đơn sắc tập trung vào ba khu vực năng lượng khác nhau, HDXRF có thể loại bỏ phần nền phân tán và giảm thiểu những ảnh hưởng gây cản trở đến độ nhạy, độ lặp lại và tốc độ của phép đo. Biểu đồ bên tay phải hiển thị mô tả cơ bản về HDXRF và việc sử dụng các thấu kính quang học tạo ra kích thích đơn sắc.
- Đo nhiều nguyên tố kim loại nặng trong đất : lên đến 14 nguyên tố trên màn chình chính Hg Cd As Cr Pb Sb Cu Ni Se Ag Zn Ba và 40 nguyên tố trên màn hình phụ
- Hiển thị : Màn hình cảm ứng TFT 10.9 cm WVGA (800RGB x480), 16.7 triệu màu, 217 dpi, nhìn rõ dưới ánh mặt trời
- Giới hạn phát hiện tốt nhất : 0.4 ppm
- Sử dụng đầu dò dạng SSD 25mm2 và 3 thấu kính tinh thể kép
- Nguồn phát X ray : 25-50kV, 200 µA
- Sử dụng Pin Li-ion, thời gian hoạt động xấp xỉ 8 giờ (gồm 2 pin)
- Trang bị bộ lắc mẫu khi đo đảm bảo độ chính xác
Cung cấp trọn bộ cho sử dụng gồm : Máy chính, bộ giá đỡ kèm buồng đo, máy lắc mẫu , Pin xạc, dây nguồn kèm hướng dẫn sử dụng.
